三豐WLI-Unit白光干涉光學(xué)單元顯微鏡

更新時(shí)間：2025-02-21

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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

描述：三豐WLI-Unit白光干涉光學(xué)單元顯微鏡，可利用白光干涉原理實(shí)現(xiàn)非接觸式高精度細(xì)微表面性狀測(cè)量

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三豐WLI-Unit白光干涉光學(xué)單元顯微鏡，可利用白光干涉原理實(shí)現(xiàn)非接觸式高精度細(xì)微表面性狀測(cè)量

WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測(cè)量輪廓測(cè)量顯微鏡ss001.jpg

WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測(cè)量輪廓測(cè)量顯微鏡ss002.jpg

WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測(cè)量輪廓測(cè)量顯微鏡ss003.jpg

WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測(cè)量輪廓測(cè)量顯微鏡ss005.png

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● 不依賴于光學(xué)倍率的高度測(cè)量精度
即使是低倍率鏡頭，也可使用Z向高分辨力進(jìn)行測(cè)量
● 高縱橫比測(cè)量
不依賴于光學(xué)系統(tǒng)的NA進(jìn)行檢測(cè)，支持高縱橫比形狀測(cè)量
● 抗干擾震動(dòng)的高穩(wěn)定性
● 小型輕便

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產(chǎn)品陣容
型號(hào)           Z向移動(dòng)范圍    Z向分辨力
WLI-Unit-003   8000μm        -
WLI-Unit-005   8000μm        4nm
WLI-Unit-010   8000μm        4nm

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